Thiết bị phân tích kích thước hạt BETTERSIZER S3 PLUS

Đặc tính kỹ thuật thiết bị phân tích kích thước hạt bettersizer

– Đo lường: Kích thước và hình dạng hạt
– Dải đo: 0,01 đến 3500µm (hệ thống Laser); 2 đến 3500µm (Hệ thống hình ảnh)
– Loại phân tán: ướt
– Công nghệ: Nhiễu xạ laser + phân tích hình ảnh động
– Đo chính xác các hạt siêu mịn (từ 10 nm) với Hệ thống DLOI (Ống kính kép & Tỷ lệ xiên) được cấp bằng sáng chế
– Phát hiện hiệu quả các hạt quá khổ với hệ thống camera kép lên đến 3,5 mm
– Hệ thống DLOI:
+ Đo các hạt siêu mịn một cách chính xác với phạm vi góc lớn (0,02 – 165 °) với 96 máy dò
+ Hệ thống quang học mạnh mẽ với độ phân giải vượt trội nhờ thiết kế thấu kính kép
+ Hệ thống laser sóng ngắn đơn (532 nm) mang lại phổ tán xạ liên tục với bước sóng nhất quán
+ Không cần thời gian ổn định và làm nóng trước với nguồn sáng trạng thái rắn
– Hệ thống camera kép:
+ Máy ảnh 0,5x và 10x – chụp ảnh các hạt có kích thước cực rộng
+ Đèn nhấp nháy tốc độ cao – chụp lên đến 10.000 hình ảnh hạt trong 60 giây, cung cấp kết quả hình dạng chân thực
+ Thích hợp để đo các mẫu không đồng nhất với quang học không xác định
– Nhận Kết quả về Kích thước và hình dạng đồng Thời
– Đo chỉ số khúc xạ tự động
– Căn chỉnh tự động của hệ thống quang học
– Phần mềm thân thiện với người dùng và hướng đến Quy trình làm việc

Thiết bị phân tích kích thước hạt BETTERSIZER S3 PLUS

H2TECH – đơn vị hàng đầu cung cấp đa dạng các dòng máy thiết bị phân tích. Trong đó, BETTERSIZER đang nhận được nhiều sự quan tâm với dòng thiết bị phân tích kích thước hạt. Với nhiều năm kinh nghiệm trong lĩnh vực cung cấp thiết bị, H2TECH tự tin có thể đáp ứng mọi yêu cầu, đem lại sự hài lòng cho khách hàng